聚合物体系的三维纳米尺度分析

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引言
光诱导力显微镜(PiFM)[1]结合了红外吸收光谱技术与原子力显微镜技术,通过局域红外吸收光谱和样品表面异质材料的亚10纳米空间分辨率 mapping,实现纳米级化学分析。
其卓越的空间分辨率源于针尖增强的近场分布,该场分布仅向样品表面延伸约20纳米。然而,存在一种PiFM配置可使技术更具体相敏感性(采样深度达约1毫米),当与表面敏感型PiFM模式联用时,可实现异质材料体系的纳米级”三维”分析。
本文将通过分析两亲性硅氧烷-聚氨酯(AmSi-PU)涂层来展示该技术的精妙性与实用性。该涂层因不同组成聚合物发生横向相分离与纵向分层[2],展现出优异的防污损性能。
样品背景
兼具疏水与亲水特性的两亲性表面是耐久型海洋涂料的候选方案,可最大限度减少海洋生物附着。本研究将采用PiFM分析两种两亲性硅氧烷-聚氨酯(AmSiPU)防污损配方。这两种配方源自两种不同的聚异氰酸酯预聚物,分别与聚二甲基硅氧烷(PDMS)和异佛尔酮二异氰酸酯(IPDI)三聚体反应的不同类型聚乙二醇(PEG)。9号与12号样品分别使用PEG-550和PEG-750;样品编号与参考文献[2]保持一致。

分析
图1展示了两种样品在表面敏感与体相敏感两种PiFM模式下,两个不同检测位点获得的形貌图与PiFM光谱(另附FTIR光谱作为对照)。观察9号样品的表面敏感光谱,可见两个位点均检测到聚二甲基硅氧烷(PDMS)特征峰。但即便在波数大于1331 cm⁻¹区间增强激光功率后,两个位点均未检测到聚氨酯(PU)特征信号(缺乏1730 cm⁻¹处的代表性峰)。相反,在体相敏感光谱中,基体(圆形岛区)呈现出更强的PU(PDMS)吸收峰。由此可见,9号样品表面覆盖着一层PDMS(由于未检测到PU峰,说明层厚超过约20纳米),其下方发生相分离形成PU富集基体与PDMS富集岛区。需注意FTIR光谱是四个区域(两个横向分隔区与两个纵向分隔区)PiFM光谱的综合表征。
12号样品在Z轴方向的分层现象较弱,因其表面敏感光谱中同样可见PU吸收峰。与9号样品类似,该样品也存在PU富集基体与PDMS富集岛区的相分离;但不同的是,这种相分离贯穿整个样品深度(包括表面)。为更好分析纯组分分布,我们采集了高光谱PiFM红外成像(hyPIR),即在图像每个像素点(256×256像素,约含65,000条光谱)采集PiFM光谱。随后通过主成分分析(PCA)与多元曲线分辨率(MCR)处理,生成纯组分分布图及光谱。结果如图2所示。

9号样品中,纯组分3(复合图像中的绿色)光谱与PDMS的FTIR光谱高度吻合。组分1(蓝色)光谱与PU的FTIR光谱高度一致。组分0(红色)光谱主要包含PEG和PDMS特征,并伴有微量PU贡献。彩色图像清晰展示了这些组分的相对分布。12号样品的PCA-MCR分析仅识别出两种主要纯组分:组分2的光谱特征与PU相似;组分0则以PDMS为主,含少量PU和PEG(根据1100 cm⁻¹处峰强判断)。复合图像显示出比9号样品更简单的相分离结构。针对在表面观察到相分离的12号样品,我们进一步采集了高分辨率表面敏感PiFM图像(见图3)。

结论而言,本研究展示了光诱导力显微镜(PiFM)在解析聚合物组分横向与纵向纳米级相分离方面的强大能力。
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参考文献
- D. Nowak et al., Sci. Adv. 2, e150157 (2016).
- T. P. Galhenage et al., J. Coat. Technol. Res., 14, 307 (2017)
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